Hier einige mit dem NanoCalc-2000 bereits erfolgreich realisierten Anwendungen:

-  Messung von dielektrischen Schichten auf Wafern oder Glas
   (SiO2, Si3N4, Fotolack, ITO, ...)
-  Sehr dünne metallische Schichten auf Wafern oder Glas (Ag, Al, Au, Ti, ...)
-  SOI Siliziumdicken-Messung (Silicon On Isolator) 
-  Dickenmessung von gedünntem Siliziumwafer (< 120µm)
-  Fotolack-Schichtdickenverteilung auf Halbleitermaske
-  DVD/CD Beschichtungen
-  Linsenbeschichtungen (Antikratz- und Antireflexions-Schichten)
-  DLC (Diamond Like Carbon) Härtungsschichten
-  Foliendicken
-  Luftspalt zwischen Maske und Wafer bei Belichtungsanlagen
-  Sehr dicke Fotolacke im Bereich der Mikromechanik (100µm bis ca. 250µm)
-  Beschichtungen in Flaschen und Spritzen
-  Integration in vorhandene Belackungsanlage bzw. Ätzanlage zur Online-Prozesskontrolle
-  und viele mehr ...

Bitte lassen Sie uns Ihre spezielle Messaufgabe wissen.
Gerne führen wir für Sie eine erste Testmessung durch.